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几何测量系统

本系列包含DT140 直径测量系统、CT 系列接触式 / CT200 NC 非接触式中心厚度测量系统，为光学镜片提供尺寸一体化检测方案。采用自动定心工装与低损伤气动测头，接触、非接触机型可选，可检测直径、圆度、锥度、中心厚度、矢高等指标；配套专用软件实现流程自定义、自动判废与数据对接，操作便捷，适合光学元件批量产线质检与实验室检测。

接触 / 非接触多机型，可测直径、锥度、中心厚度、矢高等多参数
三爪自动定心，气动测头低损伤，适配镀膜、抛光镜片
量程 φ8–300mm，最高 0.5μm 分辨率，测量稳定
触屏 + 脚踏，配套 X‑dt/X‑ct 软件，支持编程、OK/NG 判读与数据导出
支持扫码联网，适合产线连续检测与实验室质检

直径测量系统，DT 140

DT 140 直径测量系统用于光学元件的直径、圆度、锥度检测，采用三爪自动定心与气动测头，搭配触控操作与 X‑dt 软件，兼顾产线批量检测与实验室质检，精度高、操作简单，具备良好可靠性与性价比。

可测主 / 副直径、圆度、锥度，分辨率 0.5μm，测量精度≤2μm
精密三爪卡盘自动定心，测头高度可调，兼容台阶类镜片工件
测量范围 8‑140mm，脚踏开关辅助，工件装夹快速安全
触摸屏交互；选配 X‑dt 软件，支持流程编辑、数据记录导出、OK/NG 判读
支持二维码读取、网络对接，整机专为长期连续作业设计，成本效益优异

中心厚度测量系统，CT 200

CT 系列（CT200/CT300）中心厚度测量系统，用于研磨、抛光、镀膜光学透镜的产线及质检。采用三爪自动定心、气动双侧测头直测中心厚度，兼顾精度与镜片防护，支持多参数检测；触屏操作，选配 X‑ct 软件实现自动化，适配批量检测。双型号覆盖不同工件规格，运行稳定、性价比高。

可测中心厚度、矢高、孔径、透镜总高、材料去除量，完成光学元件多维度质量管控
三爪卡盘自动定心，气动测头双侧同步接触，直采中心厚度，测量稳定可靠
装夹快捷，对抛光、镀膜类敏感镜片几乎无表面损伤
触屏操作，选配 X‑ct 软件可自定义自动程序；配脚踏开关，适配大批量连续检测
CT200：φ8‑200mm；CT300：φ10‑300mm，适配各类镜片，满足产线长期使用

中心厚度测量系统，CT 300

可测中心厚度、矢高、孔径、透镜总高、材料去除量，完成光学元件多维度质量管控
三爪卡盘自动定心，气动测头双侧同步接触，直采中心厚度，测量稳定可靠
装夹快捷，对抛光、镀膜类敏感镜片几乎无表面损伤
触屏操作，选配 X‑ct 软件可自定义自动程序；配脚踏开关，适配大批量连续检测
CT200：φ8‑200mm；CT300：φ10‑300mm，适配各类镜片，满足产线长期使用

非接触式中心厚度测量系统，CT 200 NC

CT 200 NC 高精度中心厚度测量系统，面向研磨、抛光、镀膜光学元件产线与质检。依托干涉测量技术，可一站式检测中心厚度、矢高、孔径、总高度、切削余量；支持自动对中、触屏编程与脚踏批量检测，低损伤适配高精密镜片，运行稳定高效。

一次装夹检测中心厚度、矢高、孔径、总高及切削余量
三爪卡盘自动对中，气动测头测量，保护镀膜、抛光镜片
触屏操控，X‑ct 软件自定义流程，脚踏开关适配批量测量
支持 φ8mm 以下～200mm 镜片，高精度、实时出数
自带折射率库，OK/NG 判定，支持数据导出对接系统